主要特点 *领先的SDD(高纯硅)* ElvaX为RoHS检测之需求而特别选用的SDD(高纯硅)*,拥有*的应用解析度(优于140eV, 5.9keV/ Fe55 同位素条件下);*面积大于16mm2,将有利于获得更多的光讯号,从而使相邻元素的分辨精准无误。
电子制冷,缩减成本,安全可靠 专门设计的电子制冷方案,免除了使用液氮制冷的检测成本与安全隐患,提高了仪器的稳定性。
可定制不同尺寸样品腔,实现更广范围检测 可标配三种不同规格的样品腔:标准型、加大型及8腔自旋型,完全满足从液体、粉末、颗粒状物质到大型平板式等广泛范围内的样品检测需求。
特殊设计的数字转换电路,**短的数据获取时间 采用特殊设计的4096通道数字转换电路,转换时间为***快的0.2微秒,**快10S即可获得数据,提高了工作效率,使批量样品的检测得心应手。
*的人机对话界面,简单易学,使用方便 为RoHS检测特别设计的软件具有亲和的人机对话界面,一键式操作即可完成样品检测,内建多种运算模式,使未知元素的定性及定量分析变得简单快捷。
技术指标 元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
分析检出限可达1ppm。
分析含量一般为1ppm到99.9%。
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序。
多次测量重复性可达0.1%。
长期工作稳定性为0.1%。
温度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
标准配置 移动样品平台。
信噪比增强器。
电制冷Si-PIN*。
信号检测电子电路。
高低压电源。
大功率X光管。
计算机及喷墨打印机 应用领域 RoHS检测分析。
黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测。
金属镀层的厚度测量和电镀液和镀层含量的测定。
地矿等资源类的全元素分析主要用于RoHS指令相关行业、贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。
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