MC022系列薄膜测厚仪(CH-1-S) MC022系列薄膜测厚仪 MC022系列(CH-1-S) 一、CH-1-S型薄膜测厚仪概述:    CH-1-S型薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）。

本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。

二、CH-1-S型薄膜测厚仪主要参数: 1. 量程：0-1mm 分度值：0.001mm 2. 上测头曲率半径：15-50mm 3. 测头对试样施加负荷我：0.1-0.5N 4. 测量精度：100vm以内＜1vm              100-250vm＜2vm              250vm＜3vm 标签：     厦门市薄膜薄片测厚仪   厦门市薄膜薄片测厚仪厂家
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