一六仪器 专业测厚仪 多道脉冲分析采集，*EFP算法  X射线荧光镀层测厚仪 应用于电子元器件，LED和照明，测厚仪，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题 X荧光镀层测厚仪标准片选择与使用 1．一般要求    使用可靠的参考标准块校准仪器。


**的测量不确定度直接取决于校准标准块的测量不确定度和测量精度。

   参考标准块应具有的已知单位面积质量或厚度的均匀的覆盖层，如果是合金，则应知其组成。

参考标准块的有效或限定表面的任何位置的覆盖层不能超过规定值的±5%.只要用于相同的组成和同样或已知密度的覆盖层，规定以厚度为单位（而不是单位面积质量）的标准块，将是可靠的。

合金组成的测定，校准标准不需要相同，但应当已知。

金属箔标准片。

如果使用金属箔贴在特殊基体表面作标准片，就必须注意确保接触清洁，无皱折纽结。

任何密度差异，除非测量允许，否则必须进行补偿后再测。

2．标准块的选择 可用标准块的单位面积厚度单位校准仪器，电解测厚仪，厚度值必须伴随着覆盖层材料的密度来校正。

标准片应与被测试样具有相同的覆盖层和基体材料，但对试样基材为合金成分的，有些仪器软件允许标样基材可与被测试样基材不同，但前提是标准块基体材料与试样基材中的主元素相同。

3．标准块的X射线发射（或吸收）特性及使用    校正标准块的覆盖层应与被测覆盖层具有相同的X射线发射（或吸收）特性。

如果厚度由X射线吸收方法或比率方法确定，则厚度标准块的基体应与被测试样的基体具有相同的X射线发射特性，通过比较被测试样与校正参考标准块的未镀基体所选的特征辐射的强度，然后通过软件达到对仪器的校正。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。

我们专业的研发团队具备十年以上的从业经验，经与海内外多名*通力合作，研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。

稳定的多道脉冲分析采集系统、*的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。

广泛应用于电子元器件、LED和照明、家用电器、通讯、汽车电子、*工等制造领域。

*的技术，漆膜测厚仪，专业的团队，严格的企业管理是公司得以不断发展壮大、产品能够赢得客户信赖的根本所在。

一六仪器 专业测厚仪 多道脉冲分析采集，*EFP算法  X射线荧光镀层测厚仪 应用于电子元器件，镀锌测厚仪，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题 这些方法中*种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。

X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。

因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。

X射线法可测**薄镀层、双镀层、合金镀层。

β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。

电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。

测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。

它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用**广泛的测厚仪器。

采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。

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