江苏一六仪器 XTU系列 XTU-BL X荧光光谱仪 仪器规格: 外形尺寸 :550 mm x 660mm x 470 mm (长x宽x高) 样品仓尺寸 :500mm×660 mm ×215mm (长x宽x高) 仪器重量 :55kg 供电电源 :交流220±5V 功率 :330W 环境温度:15℃-30℃ 环境相对湿度:<70% EDX是借助于分析试样发出的元素特征X射线波长和强度实现的, 根据不同元素特征X射线波长的不同来测定试样所含的元素。

通过对比不同元素谱线的强度可以测定试样中元素的含量。
通常EDX结合电子显微镜使用,可以对样品进行微区成分分析。
常用的EDX探测器是硅渗锂探测器。
当特征X射线光子进入硅渗锂探测器后便将硅原子电离,产生若干电子-空穴对,其数量与光子的能量成正比。
利用偏压收集这些电子空穴对,经过一系列转换器以后变成电压脉冲供给多脉冲高度分析器,并计数能谱中每个能带的脉冲数。
{ 江苏一六仪器 选择X荧光光谱镀层检测仪的四个理由: 1、无损检测 镀层工艺的高要求,让楔切法、光截法等传统的破坏性检测方法越来越不适用,市场上迫切需要一种快速、准确、无损的检测方法,而X射线荧光光谱法无非是excellent镀层无损检测方法。
2、强化品质管控 X荧光光谱镀层检测仪可以准确检测镀层的金属含量及厚度等数据,这是做好电镀品质管控的前提。
3、提升生产力 传统的检测技术,既耗时又耗人力,x射线测厚仪,而X荧光光谱镀层检测仪可以很大程度上解放劳动力,且检测速度快、精度高,这对提高电镀企业生产力、节约成本有很大帮助,从而带来更多的经济效益。
4、提升市场竞争力 X荧光光谱镀层检测仪不但可以帮助电镀企业提升劳动生产力,测厚仪,也可以帮助电镀企业在行业里保持excellent的竞争优势。
一六仪器 专业测厚仪 多道脉冲分析采集,镀层测厚仪,*EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪 应用于电子元器件,LED和照明,家用电器,通讯,磁钢测厚仪,汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题 定位方式: 1、移动平台: A、手动(普通和带精密滑轨移动):装配设计不同精准移位从0.5mm-0.005mm不等,移动的灵动性差距也很大。
B、电动(自动):装配设计不同精准移位从0.2mm-0.002mm不等 但同样的手动或者自动,其定位精准也相差很多。
2、高度定位: A、手动变焦和无变焦 B、激光对焦和CCD识别对焦 测厚仪-一六仪器-x射线测厚仪由江苏一六仪器有限公司提供。
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